Elektronik

Leistungshalbleiter charakterisieren

Zuverlässigere Doppelpulstests

Beim Charakterisieren von Leistungshalbleitern treten Störeffekte durch Isolationsimpedanzen und unpassende Shunts auf. Manche Messgeräte kompensieren diese Effekte automatisch und erzielen deutlich bessere Messergebnisse.

Umfrage von Farnell

KI auf dem Vormarsch

IoT-Entwickler setzen zunehmend auf KI-Technologien bei der Implementierung ihrer...

Nanotech Energy / Lithium-Ionen-Akkus

Kurzschlussfeste 18650-Rundzellen gehen in Serie

Ab dem ersten Quartal 2021 will Nanotech Energy nicht entflammbare, effiziente und...

Eingänge mit Transimpedanzverstärker

Maximale Dynamik und Auflösung

Sollen Verstärker mit unipolarer Versorgungsspannung betrieben werden, benötigen sie...

Toshiba / Siliziumkarbid

Zweite SiC-MOSFET-Generation

Als ersten Siliziumkarbid-MOSFET, der auf der im Juli 2020 vorgestellten zweiten...

Embedded Power für KI

Das letzte Zoll wird beherrschbar

Ob Rechenzentrum, Auto oder Smart Home – KI, Machine Learning und Big Data fordern...

Interview mit Sven Ließ, e-GITS

»Smarte Netzwerke werden auf Blockchain aufbauen«

Seit Jahren ist sie im Kommen: die Blockchain-Technik. Wirklich umgesetzt haben sie...

Schaltnetzteile besser entwickeln

Digitaler SMPS-Zwilling zeigt »Was wäre, wenn«

Ein neuer Workspace von Keysight und Rohm soll Entwicklern die schnelle Anpassung von...

Intel

Neue Atom-Generation x6000E beschleunigt IoT-Geräte

Mit der neuen Generation der Atom-Serie x6000E bringt Intel erstmals seit Jahrzehnten...

Dr. Peter Friedrichs, Infineon

Wie die Preise für Siliziumkarbid-Wafer schneller sinken

Infineon erweitert sein Portfolio an Siliziumkarbid-Bauelementen sukzessive. Also...